Gerçek Zamanlı Test Veri Analizi ile Test Optimizasyonu
13.08.2018
ŞEHİR Bilgisayar Mühendisliği Bölümü Öğretim Üyesi Dr. Barış Arslan'ın projesine TÜBİTAK desteği
​​​İstanbul Şehir Üniversitesi Bilgisayar Mühendisliği Bölümü Öğretim Üyesi Dr. Barış Arslan'ın "Gerçek Zamanlı Test Veri Analizi ile Test Optimizasyonu" başlıklı projesi TÜBİTAK 3501 - Kariyer Geliştirme Programı tarafından desteklenmeye hak kazandı.

Kıyasıya rekabetin olduğu yarı-iletken endüstrisinde, entegre devrelerin (IC) dizayn ve ürünleştirilmesi, IC geliştirme sürecinin bütün aşamalarında (sistem mimarisi, devre dizaynı, doğrulama, üretim ve test) kapsamlı bir uzmanlığı gerektirir. Söz konusu proje kapsamında, özellikle nesnelerin interneti (IoT) ve akıllı telefon gibi tüketici elektroniklerinde kullanılan çipler için veriye dayalı test kalite ve maliyet optimizasyonu yöntemleri geliştirilecektir. Bu vurgunun nedeni, IoT ve tüketici elektroniğinin, yarı-iletken endüstrisindeki büyümenin öncülüğünü yapan oldukça rekabetçi, düşük kâr marjlı ama yüksek üretim hacimli endüstriler olmasıdır. Düşük kâr marjı, test maliyetine oldukça dikkat etme gerekliliğini beraberinde getirmektedir. Yüksek üretim hacmi ise test maliyetindeki küçük bir azalmanın bile toplamda büyük bir kazanca dönüşmesini sağlamaktadır.

Bu projenin yenilikçi yönlerinden biri; üretim hatalarını tanılayıp modellemek yerine, hataların test uygulaması sırasında gözlemlenen etkilerine yoğunlaşmak ve test etkinliğini modellemektedir. Böylece oldukça zor ve maliyetli hata tanılama süreci kullanılmadan, test optimizasyonu, test verisi kullanılarak daha basitleştirilmiş bir seviyede yapılmaktadır. Bu amaca ulaşmak için gerçek zamanlı veri analizi, makine öğrenmesi ve IC test gibi alanlarından tekniklerin kullanıldığı disiplinler arası yaklaşım hedeflenmektedir.

Araştırmanın, yarı-iletken endüstrisinde, özellikle yüksek üretim hacimli IoT ve tüketici elektroniği marketlerinde oldukça önemli olan test maliyeti problemine veriye dayalı çözümler üretmede önemli çıktılar vermesi beklenmektedir.